[发明专利]测量装置以及测量方法有效
| 申请号： | 201410040012.7 | 申请日： | 2014-01-27 |
| 公开（公告）号： | CN103969230B | 公开（公告）日： | 2018-06-26 |
| 发明（设计）人： | 白岩久志;镰田刚史;三岛俊介 | 申请（专利权）人： | 大塚电子株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种能够在更短时间内测量荧光体的光学性能的测量装置以及测量方法。测量装置(1)具备：光源(52)，其用于对荧光体照射激励光；受光部(10)，其用于接收激励光中的透过了荧光体的光以及通过激励光而由荧光体产生的荧光；以及检测部(200)，其用于检测由受光部接收到的光。受光部包括：壳体(12)，其在激励光的照射方向上具有规定长度；光漫射部(14)，其被配置在壳体的荧光体一侧；以及窗(18)，其被配置在壳体的与光漫射部相反一侧，用于将所入射的荧光引导到检测部。 | ||
| 搜索关键词： | 激励光 荧光体 测量装置 受光部 壳体 光漫射部 荧光 检测 测量 测量荧光 光学性能 照射方向 配置 入射 光源 照射 | ||
【主权项】：
1.一种测量装置，用于测量荧光体的光学性能，具备：光源，其用于对上述荧光体照射激励光；受光部，其从上述荧光体离开规定距离地配置，并且用于接收上述激励光中的透过了上述荧光体的光以及通过上述激励光而由上述荧光体产生的荧光；以及检测部，其用于检测由上述受光部接收到的光，其中，上述受光部包括：壳体，其在上述激励光的照射方向上具有规定长度；光漫射部，其被配置在上述壳体的上述荧光体一侧；以及窗，其被配置在上述壳体的与上述光漫射部相反一侧，用于将所入射的荧光引导到检测部。
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