[发明专利]基于双能CT扫描数据重建投影图像检测方法

摘要

本发明涉及图像分析、定位，涉及使用计算机断层扫描技术领域，为得到对比度更高、选择性消去某种结构的图像，以有利于提高定位精确性与追踪的准确性，为此，本发明采用的技术方案是，基于双能CT扫描数据重建投影图像检测方法，包括如下步骤：双能减影图像由下式表示：，公式（1）中的参数获得及说明如下:减影图像中像素的灰度值。本发明主要应用于计算机断层扫描。

主权项

1.一种基于双能CT扫描数据重建投影图像检测方法，其特征是，包括下列步骤：双能减影图像由下式表示：IBone-canceledDE=ln(I0H)-wsln(I0L)-ρeWater·EPL{[fKN(EH)-wsfKN(EL)]+[1/(EH)3.2-ws/(EL)3.2]Cp(ZWater)3.8}---(1)]]>公式（1）中的参数获得及说明如下:减影图像中像素的灰度值_I0^H，I₀^L：高能和低能入射X射线的强度，在这里这一项为常数，因此计算模拟图像时忽略这一项的值；E^H,E^L:高能X线和低能X线的能量，单位为keV；f_KN是Klein-Nishina方程：fKN(E)=C0{1+EE2[2(1+E)1+2E-1Eln(1+2E)]+12Eln(1+2E)-1+3E(1+2E)2}---(2)]]>其中C₀为常数，C₀=5.0×10^-25；Z_Water:水的有效原子序数；ρ_eWater：水的电子密度；Cp:常数，Cp=9.8×10^-24；w_s：消去骨性结构或软组织的权重因子,取经验值0.5；EPL：等效路径长度，即除去被消除的结构，EPL=∑_iΔd_iρ_ei                    （3）i：X射线穿过组织中的第i种物质；Δd_i：X射线穿过物质i路径的距离；ρ_ei：物质i的相对电子密度。