[发明专利]光学设备的校准有效
| 申请号： | 201380078194.0 | 申请日： | 2013-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN105379150B | 公开（公告）日： | 2018-09-18 |
| 发明（设计）人： | J·瓦布尼格;A·尼斯卡宁;H·李;D·比陶尔德 | 申请（专利权）人： | 诺基亚技术有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/11 | 分类号： | H04B10/11 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 杨晓光;于静 |
| 地址： | 芬兰*** | 国省代码： | 芬兰;FI |
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| 摘要： | 设备的光学组件的调节包括：确定所述光学组件的耦合效率的至少一个导数，所述耦合效率为用于所述光学组件的操纵功能的控制的参数的函数。至少一个振荡成分被诱导到用于确定的参数中。光学组件的调节基于所确定的至少一个导数。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 设备 校准 | ||
【主权项】：
1.一种用于对设备的光学组件进行调节的方法，包括：确定所述光学组件的耦合效率的至少一个导数，所述耦合效率为用于所述光学组件的操纵功能的控制的参数的函数，其中至少一个振荡成分被诱导到所述参数中，以及基于所确定的至少一个导数来确定所述光学组件的调节。
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