[发明专利]红外线检测装置无效
| 申请号： | 201380061498.6 | 申请日： | 2013-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN104823030A | 公开（公告）日： | 2015-08-05 |
| 发明（设计）人： | 野田俊成;久保敬;高安平 | 申请（专利权）人： | 松下知识产权经营株式会社 |
| 主分类号： | G01J1/02 | 分类号： | G01J1/02;H01L37/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 齐秀凤 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 红外线检测装置具备基板和热型光检测元件。基板具有凹部、和位于凹部的周围的框部。热型光检测元件具有脚部和检测部，脚部连接在框部上以使检测部位于凹部上。此外，热型光检测元件具有：设置在基板上的第1电极层、设置在第1电极层上的检测层、和设置在检测层上的第2电极层。第1电极层的线性热膨胀系数大于基板的线性热膨胀系数，基板的线性热膨胀系数大于检测层的线性热膨胀系数。 | ||
| 搜索关键词： | 红外线 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种红外线检测装置，具备：基板，其具有凹部、和位于所述凹部的周围的框部；以及热型光检测元件，其具有脚部和检测部，所述脚部连接在所述框部上以使所述检测部位于所述凹部上，并且该热型光检测元件具有设置在所述基板上的第1电极层、设置在所述第1电极层上的检测层、和设置在所述检测层上的第2电极层，所述第1电极层的线性热膨胀系数大于所述基板的线性热膨胀系数，所述基板的线性热膨胀系数大于所述检测层的线性热膨胀系数。
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