[发明专利]物理不可克隆功能的自测试在审

专利信息
申请号: 201380050674.6 申请日: 2013-08-08
公开(公告)号: CN104662554A 公开(公告)日: 2015-05-27
发明(设计)人: R.法尔克 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G06F21/57 分类号: G06F21/57;G01R31/3187;G06F11/27;H04L9/32
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 卢江;刘春元
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 一种电路单元(1),包括以下称为PUF(6)的物理不可克隆功能(6)、检验单元(5)和用于存储至少一个质询响应对(CR1)的信息存储器(7),其中质询响应对(CR1)包括质询信息(C1)和与其相关的响应信息(R1);以及其中检验单元(5)被设计和/或适配为促使将质询信息(C1)输入到PUF(6)中,并且将对此由PUF(6)产生的PUF响应(PR1)和响应信息(R1)用于比较,并且根据比较的结果释放或限制PUF(6)的使用。
搜索关键词: 物理 不可 克隆 功能 测试
【主权项】:
一种电路单元(1),包括以下称为PUF(6)的物理不可克隆功能(6)、检验单元(5)和用于存储至少一个质询响应对(CR1)的信息存储器(7);其中所述质询响应对(CR1)包括质询信息(C1)和与其相关的响应信息(R1);以及其中所述检验单元(5)被设计和/或适配为促使将所述质询信息(C1)输入到所述PUF(6)中,并且将对此由所述PUF(6)产生的PUF响应(PR1)和所述响应信息(R1)用于比较,并且根据比较的结果释放或限制所述PUF(6)的使用。
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