[发明专利]料位测量设备

摘要

公开了一种料位测量设备(5,25)，其根据脉冲雷达原理工作，用于测量容器(1)中的填充物质(3,21,32)的料位(L)，包括：发射系统(11)，其具有脉冲生成系统(15)，脉冲生成系统(15)连接到控制单元(13)并且对分别包括至少两次测量的预确定测量周期中的各个测量，对每一测量，产生由预确定的平均频率(fn)的至少一个微波脉冲，尤其是周期性相继的一系列微波脉冲构成的发射信号(Sn)，其中，至少两次测量的发射信号(Sn)的平均频率(fn)相互不同；进一步包括天线(9,27)，其连接到发射系统(11)，将发射信号(Sn)发送到容器(1)中，并且接收朝向天线(9,27)在容器(1)中反射的信号部分作为接收信号(Rn)，并且对不同的平均频率(fn)，具有取决于发射信号(Sn)的平均频率(fn)的不同空间辐射特性；进一步包括信号处理系统(19)，其连接到发射系统(11)和天线(9,27)，并且接收并且基于对应发射信号(Sn)的微波脉冲的平均频率(fn)和天线(9,27)的空间辐射特性的平均频率相关性评估接收信号(Rn)。

主权项

1.一种料位测量设备(5,25)，所述料位测量设备(5,25)根据脉冲雷达原理工作，用于测量容器(1)中的填充物质(3,21,32)的料位(L)，包括：‑发射系统(11)，所述发射系统(11)具有连接到控制单元(13)的脉冲生成系统(15)，‑‑所述脉冲生成系统以下述方式实现：在每一情况下包括至少两次测量的预确定测量周期中，为每次测量，它产生由为该特定测量预确定的中心频率(fn)的微波脉冲构成的发射信号(Sn)，其中，所述至少两次测量的发射信号(Sn)的中心频率(fn)相互不同；‑连接到所述发射系统(11)的天线(9,27)，‑‑所述天线(9,27)将所述发射信号(Sn)发送到所述容器(1)中，并且接收它们在取决于与所述料位测量设备(5,25)的相关反射器的距离的传播时间(t)后，在所述天线(9,27)的方向上在所述容器(1)中反射回来的信号部分作为接收信号(Rn)，以及‑‑所述天线(9,27)对不同的中心频率(fn)，具有取决于所述发射信号(Sn)的中心频率(fn)的不同空间辐射特性，以及‑连接到所述发射系统(11)和所述天线(9,27)的信号处理系统(19)，‑‑所述信号处理系统(19)接收所述接收信号(Rn)并且基于相关发射信号(Sn)的微波脉冲的中心频率(fn)和所述天线(9,27)的空间辐射特性的中心频率相关性评估这些接收信号(Rn)，其中所述天线(27)是空心导体缝隙天线，‑所述天线(27)具有由所述发射系统(11)馈送的输入(33)，‑所述天线(27)的与所述输入(33)相对放置的末端(35)被末端短路、被端接有无反射端，或被开路，以及‑所述天线(27)具有空心导体壁(37)，所述空心导体壁(37)具有切口(39)，经所述切口，取决于所述切口(39)的定位和尺寸以及所供应的发射信号(Sn)的中心频率(fn)，所述天线(27)发送对不同中心频率(fn)具有不同的空间辐射特性的发射信号(Sn)。