[发明专利]X射线辐射的检测和X射线检测器系统有效
| 申请号： | 201380048384.8 | 申请日： | 2013-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN104641256B | 公开（公告）日： | 2017-12-15 |
| 发明（设计）人： | E.戈德尔;D.尼德洛纳;M.斯特拉斯伯格;S.沃思;P.哈肯施密德;S.卡普勒;B.克赖斯勒;M.拉巴延德英扎;M.莱因万德;C.施勒特 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人： | 谢强 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于利用X射线检测器(100)检测X射线辐射(R)的方法，所述X射线检测器具有直接转换的半导体检测器元件(150a,150b)，其中借助辐射源(210a,210b)将附加辐射(K)传送到半导体检测器元件(150a,150b),并且附加辐射(K)的传送基于预先给出的额定值(Ta,Tb,Tc)被控制或调节。特别地，额定值可以时间上可变地作为目标值的序列被预先给出。此外描述了一种X射线检测器系统(200)，利用所述X射线检测器系统可以执行该方法。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 辐射 检测 检测器 系统 | ||
【主权项】：
一种利用X射线检测器(100)检测X射线辐射(R)的方法，所述X射线检测器具有直接转换的半导体检测器元件(150a,150b)，其中，借助辐射源(10,210,210a,210b)将附加辐射(K)传送到所述半导体检测器元件(150a,150b)，以使载流子经过相对长的时间段结合到晶格缺陷,基于预先给出的额定值(Ta,Tb,Tc)来控制或调节所述附加辐射(K)的传送，以及所述附加辐射(K)至少在第一测量序列之前的时间上的准备阶段中并且在还没有执行X射线测量期间进行。
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