[实用新型]抗反射膜、使用其的光学部件和光学仪器有效
申请号: | 201320569682.9 | 申请日: | 2013-09-13 |
公开(公告)号: | CN203643625U | 公开(公告)日: | 2014-06-11 |
发明(设计)人: | 藤井秀雄;竹友裕树 | 申请(专利权)人: | 理光映像有限公司 |
主分类号: | G02B1/11 | 分类号: | G02B1/11 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;唐瑞庭 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本实用新型涉及一种抗反射膜、使用其的光学部件和光学仪器。所述抗反射膜为,在基材的表面上从基材侧顺序层压第1层~第9层而形成的抗反射膜,第2层、第4层、第6层和第8层为由对于波长587.56nm的He光源的d线呈现2.21以上且2.70以下的折射率的高折射率材料形成的高折射率层,第1层、第3层、第5层和第7层为由对于上述d线呈现1.40以上且不足1.55的折射率的中间折射率材料形成的中间折射率层,第9层为由对于上述d线呈现1.35以上且不足1.40的折射率的低折射率材料形成的低折射率层,所述抗反射膜对于可见区的波长范围390~720nm的光的反射率在0.2%以下。 | ||
搜索关键词: | 反射 使用 光学 部件 光学仪器 | ||
【主权项】:
一种抗反射膜,其特征在于,其为在基材的表面上从上述基材侧顺序层压第1层~第9层而形成的抗反射膜,第2层、第4层、第6层和第8层为由对于波长587.56nm的He光源的d线呈现2.21以上且2.70以下的折射率的高折射率材料形成的高折射率层,第1层、第3层、第5层和第7层为由对于上述d线呈现1.40以上且不足1.55的折射率的中间折射率材料形成的中间折射率层,第9层为由对于上述d线呈现1.35以上且不足1.40的折射率的低折射率材料形成的低折射率层,所述抗反射膜对于可见区的波长范围390~720nm的光的反射率在0.2%以下。
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