[实用新型]试验缺陷识别装置有效
| 申请号： | 201320527652.1 | 申请日： | 2013-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN203443901U | 公开（公告）日： | 2014-02-19 |
| 发明（设计）人： | 陈波 | 申请（专利权）人： | 上海美诺福实验自动化有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 吴开磊 |
| 地址： | 201999 上海市宝*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种试验缺陷识别装置。该试验缺陷识别装置包括：基座、支架、光源部件、图形采集组件和通信组件，其中：支架竖直固定于所述基座上，基座包括定样部位；支架包括支架臂，支架臂具有端环，支架臂将光源部件固定于定样部位的上方；用于采集部件参量信息的图形采集组件安装于支架臂的端环内；用于接收图形采集组件发出的信号并与图像分析设备连通的通信组件设置于基座内部。本实用新型提供的试验缺陷识别装置将通过支架臂固定光源部件和图形采集组件，实现对部件的相应部位进行拍摄和成像，并将计算得到的部件的各种参量信息传输至图像分析设备中进行显示和后续分析，达到全面地获取部件参量信息的技术目的。 | ||
| 搜索关键词： | 试验 缺陷 识别 装置 | ||
【主权项】：
一种试验缺陷识别装置，其特征在于，包括：基座、支架、光源部件、图形采集组件和通信组件，其中：所述支架竖直固定于所述基座上，所述基座包括定样部位；所述支架包括支架臂，所述支架臂具有端环，所述支架臂将所述光源部件固定于所述定样部位的上方；用于采集部件参量信息的图形采集组件安装于所述支架臂的端环内；用于接收所述图形采集组件发出的信号并与图像分析设备连通的所述通信组件设置于所述基座内部。
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