[实用新型]HIT专属单层膜光暗电导性能测试设备有效
| 申请号： | 201320292961.5 | 申请日： | 2013-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN203337733U | 公开（公告）日： | 2013-12-11 |
| 发明（设计）人： | 郭群超;柳琴;庞红杰;张愿成;张军 | 申请（专利权）人： | 上海太阳能工程技术研究中心有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 杨元焱 |
| 地址： | 200241 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种高效异质结HIT专属单层膜光暗电导性能测试设备，它包括样品台、可编程的静电计、光源和大屏蔽罩。样品台含有两个压片探针，并且整个样品台内置在一个暗盒里，完全密封；光源设置在样品台的正上方；可编程的静电计设置在一个小屏蔽罩内，并用屏蔽信号线和两个压片探针连接并接地；大屏蔽罩将上述样品台、光源和可编程的静电计屏蔽在内，并且接地。利用本实用新型的测试设备对高效异质结HIT专属单层膜光暗电导性能进行测试，方法简单并且成本低，能准确的反应出材料的光电性能。 | ||
| 搜索关键词： | hit 专属 单层 膜光暗 电导 性能 测试 设备 | ||
【主权项】：
一种HIT专属单层膜光暗电导性能测试设备，其特征在于包括： 样品台，含有两个压片探针，并且整个样品台内置在一个暗盒里，完全密封； 光源，设置在样品台的正上方； 可编程的静电计，设置在一个小屏蔽罩内，并用屏蔽信号线和两个压片探针连接并接地； 大屏蔽罩，将上述样品台、光源和可编程的静电计屏蔽在内，并且接地。
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