[实用新型]一种用于测试集成电路的治具有效
| 申请号： | 201320164063.1 | 申请日： | 2013-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN203101439U | 公开（公告）日： | 2013-07-31 |
| 发明（设计）人： | 钱培玉 | 申请（专利权）人： | 嘉兴市英力电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 314001 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及治具技术领域，具体的说是一种用于测试集成电路的治具。该用于测试集成电路的治具包括电路板、金属基板和绝缘层，所述金属基板设于所述电路板上表面上，所述金属基板上表面上设有一个矩形凹陷，所述矩形凹陷内位于所述金属基板内部设有若干测试柱，所述测试柱上端面呈圆弧状，所述测试柱下端与所述电路板电连接，所述金属基板的表面设有一层绝缘层。本实用新型提供一种结构简单、操作方便的用于测试集成电路的治具。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测试 集成电路 | ||
【主权项】：
一种用于测试集成电路的治具，其特征在于包括电路板、金属基板和绝缘层，所述金属基板设于所述电路板上表面上，所述金属基板上表面上设有一个矩形凹陷，所述矩形凹陷内位于所述金属基板内部设有若干测试柱，所述测试柱上端面呈圆弧状，所述测试柱下端与所述电路板电连接，所述金属基板的表面设有一层绝缘层。
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