[实用新型]一种三相程控精密测试电源有效
申请号: | 201320157888.0 | 申请日: | 2013-04-02 |
公开(公告)号: | CN203149428U | 公开(公告)日: | 2013-08-21 |
发明(设计)人: | 李慧;李景 | 申请(专利权)人: | 淮阴工学院 |
主分类号: | G05F1/46 | 分类号: | G05F1/46;G01R35/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215200 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型提供一种三相程控精密测试电源,该三相程控精密测试电源包括DSP信号处理器、CPLD逻辑器件、CPLD逻辑器件包括RAM存储器模块、DDS信号产生模块、并行D/A驱动模块、键盘扫描模块、串行D/A驱动模块。该三相程控精密测试电源采用直接数字频率合成(DDS)技术,以大规模可编程器件CPLD和高速微处理器DSP为系统控制核心,配合高速高精度的DA芯片以及高保真功放一起构成的高精度标准功率源。本测试电源可以输出频率、相位及幅度均可调的高精度电压电流,是高精度的可调电压电流标准源,具有输出稳定可靠、精度高、高性价比、低功耗等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 三相 程控 精密 测试 电源 | ||
【主权项】:
一种三相程控精密测试电源,其特征在于,其包括:ROM存储器,所述ROM存储器内存储有DDS波形数据;DSP信号处理器,所述DSP信号处理器与所述ROM存储器连接;CPLD逻辑器件,所述CPLD逻辑器件包括RAM存储器模块、DDS信号产生模块、并行D/A驱动模块、键盘扫描模块、串行D/A驱动模块;所述RAM存储器模块与所述DSP信号处理器、DDS信号产生模块连接,所述DDS信号产生模块与所述DSP信号处理器、并行D/A驱动模块连接,所述并行D/A驱动模块与并行D/A转换电路连接;所述DSP信号处理器与所述键盘扫描模块、串行D/A驱动模块连接,所述串行D/A驱动模块与串行D/A转换电路连接,所述串行D/A转换电路的输出端与所述并行D/A转换电路的基准电压输入端连接,所述键盘扫描模块与外接键盘连接;所述DSP信号处理器读取所述ROM存储器内的DDS波形数据并传输给RAM存储器模块,所述RAM存储器模块将所述DDS波形数据传输给所述DDS信号产生模块,所述键盘扫描模块用于接收所述外接键盘输入的电压或者电流的幅值、频率和相位参数并输送给所述DSP信号处理器,所述DSP信号处理器将电压或者电流的频率、相位参数传输给DDS信号产生模块,所述DDS信号产生模块根据DDS波形数据及电压或者电流的频率、相位参数进行数字合成并通过所述D/A驱动模块传输给并行D/A转换电路,与此同时,DSP信号处理器将电压或者电流的幅值参数经所述串行D/A驱动模块传输给串行D/A转换电路,使所述串行D/A转换电路为所述并行D/A转换电路提供参考电压。
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