[发明专利]液晶基板配向检查系统有效
| 申请号： | 201310753086.0 | 申请日： | 2013-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN103777383A | 公开（公告）日： | 2014-05-07 |
| 发明（设计）人： | 罗平 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1337 |
| 代理公司： | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人： | 杨林;李友佳 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及液晶基板配向检查系统，即HVA配向后盒内液晶检查机的整列系统，包括位于基板四角的整列机构，所述整列机构设有对基板边沿施压的水平整列装置，其特征在于，还包括用于纵向向基板施加压力的压平装置。这种液晶基板配向检查系统可以对整列过程中基板弯曲进行矫正，减少因为基板的弯曲变形造成的探针与基板接触不良，进一步减少人员误判。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 基板配 检查 系统 | ||
【主权项】：
一种液晶基板配向检查系统，包括位于基板（10）四角的整列机构，所述整列机构设有对基板（10）边沿施压的水平整列装置（20），其特征在于，还包括用于纵向向基板（10）施加压力的压平装置（30）。
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