[发明专利]显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测装置有效
| 申请号： | 201310752733.6 | 申请日： | 2013-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN103760165A | 公开（公告）日： | 2014-04-30 |
| 发明（设计）人： | 黄海波 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G02F1/13;G06T7/00 |
| 代理公司： | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人： | 杨林;李友佳 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测装置。该缺陷检测方法包括步骤：A）获取显示面板的边缘图像及该边缘图像中每个像素的灰阶值；B）在该边缘图像中选择一特定区域，并获得该特定区域中的每个像素的灰阶值；C）获得该特定区域中的所有像素的平均灰阶值；D）基于该平均灰阶值对该特定区域中的每个像素的灰阶值进行二值化处理，以获得若干分界线，其中，分界线上的像素的灰阶值与除分界线上的像素之外的其它像素的灰阶值不同；E）过滤若干分界线中的水平线和垂直线，以得到若干剩余的分界线；F）对若干剩余的分界线压缺陷规格线，当所述剩余的分界线的宽度不小于与缺陷规格线的宽度时，确定所述剩余的分界线为缺陷线。 | ||
| 搜索关键词： | 显示 面板 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：A）获取显示面板的边缘图像及所述边缘图像中每个像素的灰阶值；B）在所述边缘图像中选择一特定区域，并获得所述特定区域中的每个像素的灰阶值；C）对所述特定区域中的所有像素的灰阶值取平均值，以得到所述特定区域中的所有像素的平均灰阶值；D）基于得到的所述平均灰阶值对所述特定区域中的每个像素的灰阶值进行二值化处理，以获得若干分界线，其中，所述分界线上的像素的灰阶值与除所述分界线上的像素之外的其它像素的灰阶值不同；E）过滤所述若干分界线中的水平线和垂直线，以得到若干剩余的分界线；F）对所述若干剩余的分界线压缺陷规格线，当所述剩余的分界线的宽度不小于所述缺陷规格线的宽度时，确定所述剩余的分界线为缺陷线。
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