[发明专利]一种电子元件检测设备及其检测方法无效
| 申请号： | 201310743038.3 | 申请日： | 2013-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN103713219A | 公开（公告）日： | 2014-04-09 |
| 发明（设计）人： | 林汉勳;蔡译庆 | 申请（专利权）人： | 致茂电子（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海宏威知识产权代理有限公司 31250 | 代理人： | 金利琴 |
| 地址： | 215011 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种电子元件检测设备及其检测方法，包括：移载梭车的进料承置部位于进料区，而装填部分待测电子元件，且出料承置部位于测试区，而测完电子元件被搬至出料承置部上；出料承置部移入出料区而部分测完电子元件被搬至出料承载盘；进料承置部移入进料区而填满进料承置部；出料承置部移入出料区内而清空出料承置部，此时进料承置部上全部的待测电子元件搬运至检测装置进行测试。本发明充分利用检测时间、以及搬运过程的空档，而多批次的装填及清空电子元件，以减少各装置的闲置时间，进而大幅提高检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元件 检测 设备 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种电子元件检测方法，其特征在于，包括以下步骤：(A)一移载梭车的一进料承置部位于一进料区内，一进料取放装置自一进料承载盘搬运至少一待测电子元件至该移载梭车的该进料承置部；该移载梭车的一出料承置部位于一测试区内，至少一取放臂将该测试区内的一检测装置上的至少一测完电子元件搬至该出料承置部上；(B)该移载梭车移动，使该出料承置部移入一出料区内，一出料取放装置自该出料承置部搬出该至少一测完电子元件至一出料承载盘；(C)该移载梭车移动使该进料承置部移入该进料区内，该进料取放装置自该进料承载盘搬运该至少一待测电子元件而填满该进料承置部；以及(D)该移载梭车移动使该出料承置部移入该出料区内，该出料取放装置搬出该至少一测完电子元件而清空该出料承置部；该进料承置部位于该测试区内，该至少一取放臂将该进料承置部上全部的该待测电子元件搬运至该检测装置进行测试。
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