[发明专利]原子荧光光谱法测定工业阳极铜中痕量铋、硒的方法在审
申请号: | 201310679849.1 | 申请日: | 2013-12-15 |
公开(公告)号: | CN103674917A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 马得莉;王冬珍;陈化玲;吕彦玲;王晓;徐艳 | 申请(专利权)人: | 白银有色集团股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 甘肃省知识产权事务中心 62100 | 代理人: | 田玉兰 |
地址: | 730900 甘*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
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摘要: | 本发明公开一种利用原子荧光光谱法测定工业阳极铜中痕量铋、硒的方法,用标准铋溶液和标准硒溶液配置工作曲线溶液;用原子荧光光度计测定工作曲线溶液中铋和硒的原子荧光强度,以铋、硒的质量浓度为横坐标,以铋、硒的荧光强度为纵坐标,绘制工作曲线;用原子荧光光度计测定样品溶液的原子荧光强度,用样品溶液中铋、硒的荧光强度在相应的工作曲线上查出相应元素铋、硒的质量浓度;本发明有效掩蔽干扰离子Zn、Fe、Co、Ni、Cd、Sb、Te、Sn的影响,还能消除铜基体本身对铋、硒测量的影响,使铋和硒的测量结果更精确,测定时间短精度高、检出限低、线性范围宽、能同时快速测定,适合大批量样品分析,具有很好的经济效益和工业应用价值。 | ||
搜索关键词: | 原子 荧光 光谱 测定 工业 阳极 痕量 方法 | ||
【主权项】:
1.一种利用原子荧光光谱法测定工业阳极铜中痕量铋、硒的方法,其特征在于:所述方法包括:配置工业阳极铜细屑样品的溶液,配置标准铋溶液和标准硒溶液,用标准铋溶液和标准硒溶液配置工作曲线溶液;用原子荧光光度计测定工作曲线溶液中铋和硒的原子荧光强度,以铋、硒的质量浓度为横坐标,以铋、硒的荧光强度为纵坐标,绘制工作曲线;用原子荧光光度计测定样品溶液的原子荧光强度,用样品溶液中铋、硒的荧光强度在相应的工作曲线上查出相应元素铋、硒的质量浓度;根据下式计算试样中元素铋、硒的质量百分数w,数值以%表示:
式中:ρ—测定试样溶液中元素铋、硒的质量浓度,单位为每毫升微克;ν—测定试样溶液体积,单位毫升;m—试样质量,单位克。
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