[发明专利]基于Labview 的热电偶自动测温分析方法及系统有效
| 申请号： | 201310677102.2 | 申请日： | 2013-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN103674328A | 公开（公告）日： | 2014-03-26 |
| 发明（设计）人： | 王罡;聂振国;融亦鸣;刘德浩;魏绍鹏 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01K15/00 | 分类号： | G01K15/00;G01K7/02 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张大威 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出一种基于Labview的热电偶自动测温分析方法，包括以下步骤：将数据采集卡分别与温度检测装置和上位机进行连接；待连接完成后，通过上位机选择数据采集卡占用的端口以及温度检测装置在数据采集卡上占用的采集通道；上位机接收数据采集卡采集的由温度检测装置检测到的被测设备的温度数据；根据采样点的温度数据生成温度随时间的变化图以及温度变化速度曲线图；根据温度随时间的变化图以及温度变化速度曲线图对被测设备进行性能分析。本发明的方法，通过上位机触发温度采样频率指令和/或采集通道切换指令来调整数据采集卡的温度采样频率和/或切换数据采集卡的采样通道，使得Labview软件能够普遍适用于不同的数据采集卡。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 labview 热电偶 自动 测温 分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种基于Labview的热电偶自动测温分析方法，其特征在于，包括以下步骤：将数据采集卡分别与温度检测装置和上位机进行连接；待连接完成后，通过所述上位机选择所述数据采集卡占用的端口以及所述温度检测装置在所述数据采集卡上占用的采集通道；所述上位机接收所述数据采集卡采集的由所述温度检测装置检测到的被测设备的温度数据；根据所述采样点的温度数据生成温度随时间的变化图以及温度变化速度曲线图；以及根据所述温度随时间的变化图以及温度变化速度曲线图对所述被测设备进行性能分析。
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