[发明专利]一种RFID读写器老化测试辅助装置有效

专利信息
申请号: 201310643271.4 申请日: 2013-12-05
公开(公告)号: CN103675541A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: 刘海波;钟旭 申请(专利权)人: 成都天志大行信息科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 成都华典专利事务所(普通合伙) 51223 代理人: 徐丰;杨保刚
地址: 610041 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种RFID读写器老化测试辅助装置,包括MCU、继电器、串口接口一、温湿度传感器接口、液晶显示器、存储器、扩展存储器、按键、报警器、电平转换电路和串口接口二,继电器控制电源的开关,MCU通过串口接口一与老化箱内的读写器进行通信,MCU通过温湿度传感器接口与老化箱内的温湿度传感器连接,液晶显示器与MCU连接并显示测试信息,存储器和扩展存储器与MCU连接并存储测试信息,按键对MCU进行测试操作,报警器与MCU连接并在在测试完成时启动报警,电平转换电路连接在MCU与串口接口二之间进行电平转换,串口接口二实现MCU与上位机的通信。本发明结构简单、使用便捷且效率高。
搜索关键词: 一种 rfid 读写 老化 测试 辅助 装置
【主权项】:
一种RFID读写器老化测试辅助装置,其特征在于:包括MCU、继电器、串口接口一、温湿度传感器接口、液晶显示器、存储器、扩展存储器、按键、报警器、电平转换电路和串口接口二,所述继电器控制电源的开关,所述MCU通过串口接口一与老化箱内的读写器进行通信,所述MCU通过温湿度传感器接口与老化箱内的温湿度传感器连接,所述液晶显示器与MCU连接并显示测试信息,所述存储器和扩展存储器与MCU连接并存储测试信息,所述按键对MCU进行测试操作,所述报警器与MCU连接并在在测试完成时启动报警,所述电平转换电路连接在MCU与串口接口二之间进行电平转换,所述串口接口二实现MCU与上位机的通信。
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