[发明专利]确定平板检测器的几何成像性质的方法和x射线检查系统在审
| 申请号： | 201310624529.6 | 申请日： | 2013-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN103852477A | 公开（公告）日： | 2014-06-11 |
| 发明（设计）人： | A.苏佩斯;P.波库特内夫;E.诺伊泽尔;N.罗特 | 申请（专利权）人： | GE传感与检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 易皎鹤;汤春龙 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 一种用于确定x射线检查系统中的平板检测器（12）的几何成像性质的方法包括以下步骤：在x射线源（11）与平板检测器（12）之间布置校准模型（13），其中该校准模型（13）包括至少一个离散几何对象（30）；利用平板检测器（12）记录校准模型（13）的至少一个x射线图像，其中至少一个离散几何形状（32）通过对校准模型（13）的至少一个离散几何对象（30）成像而在x射线图像中生成；以及根据至少一个离散几何形状（32）的至少一个特性，从至少一个x射线图像确定平板检测器（12）的位点依赖的失真误差。用于确定位点依赖的失真误差的至少一个离散几何形状（32）的所有特性独立于校准模型（13）的尺寸。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 平板 检测器 几何 成像 性质 方法 射线 检查 系统 | ||
【主权项】：
一种用于确定x射线检查系统中平板检测器（12）的几何成像性质的方法，包括以下步骤：－将校准模型（13）布置在x射线源（11）与所述平板检测器（12）之间，其中所述校准模型（13）包括至少一个离散几何对象（30）；－利用所述平板检测器（12）记录所述校准模型（13）的至少一个x射线图像，其中至少一个离散几何形状（32）通过对所述校准模型（13）的至少一个离散几何对象（30）成像而在所述x射线图像中生成；以及－根据所述至少一个离散几何形状（32）的至少一个特性，从所述至少一个x射线图像确定所述平板检测器（12）的位点依赖的失真误差；其中，用于确定所述位点依赖的失真误差的所述至少一个离散几何形状（32）的所有特性独立于所述校准模型（13）的尺寸。
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