[发明专利]电机控制系统中微处理器的ADC采样故障检测方法有效
申请号: | 201310586778.0 | 申请日: | 2013-11-19 |
公开(公告)号: | CN103743987A | 公开(公告)日: | 2014-04-23 |
发明(设计)人: | 张倩;金万兵;柯文静 | 申请(专利权)人: | 广东威灵电机制造有限公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人: | 张全文 |
地址: | 528311 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明属于电机驱动控制技术领域,提供了一种电机控制系统中微处理器的ADC采样故障检测方法。该方法是在一次PWM中断的时间内通过ADC采样模块采集获取微处理器中的内部实际温度和内部实际参考电压,通过将内部实际温度和内部实际参考电压分别与微处理器本身的预设值比较,来判断ADC采样是否失效,实现了在一定PWM中断频率下、对adc采样故障的周期性检测,从而能及时发现ADC采样模块的故障情况并对电机采取保护,提高了电机控制系统运行的可靠性。再有,由于是采用优先级仅次于ADC采样中断的PWM中断作为主中断,可避免PWM中断的时间内、故障检测程序被可能的其它中断干扰而造成检测失效。 | ||
搜索关键词: | 电机 控制系统 微处理器 adc 采样 故障 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种电机控制系统中微处理器的ADC采样故障检测方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:在本次PWM中断的时间内,通过ADC采样模块获取电机控制系统中微处理器的内部实际温度和内部实际参考电压;在所述本次PWM中断的时间内,计算所述内部实际温度相对微处理器本身的预设温度值的第一偏差、以及所述内部实际参考电压相对微处理器本身的预设电压值的第二偏差;在所述本次PWM中断的时间内,若所述第一偏差和/或所述第二偏差超出偏差允许范围,则判断所述ADC采样模块失效。
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