[发明专利]一种透明基底上石墨烯层数测量方法

摘要

一种透明基底上石墨烯层数测量方法，属于材料技术领域，涉及通过石墨烯偏振依赖光学性质来测量石墨烯的层数。首先将石墨烯转移到透明基底上；然后通过折射率匹配液将石英片贴附于棱镜表面；将光束聚焦照射到覆盖有石墨烯的位置，出射光分成s和p偏振分别照射到平衡探测器的两个探头；控制位移平台与平衡探测器对石墨烯样品进行扫描，得到光斑位置与平衡探测器的电压信号；最后对采集结果进行信号分析处理，获得石墨烯层数信息。采用本发明的方法，能够灵活、方便得对透明基底上的石墨烯层数进行测量。

主权项

一种透明基底上石墨烯层数测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：将石墨烯转移或直接制备到透明基底上；步骤2：通过折射率匹配液将透明基底帖附于棱镜表面，透明基底没有石墨烯的一面与棱镜接触；步骤3：将带有石墨烯的棱镜置于移动平台上，光束通过玻片后产生圆偏振光，通过棱镜、折射率匹配液和透明基底，在透明基底／石墨烯／空气界面发生全反射，最后将反射的光束利用偏振分束器分束，分出的两种偏振光分别照射在平衡探测器的两个探头；步骤4：利用平衡探测器对电压信号进行采集，同时控制平台与平衡探测器对石墨烯样品进行扫描，得到一系列光斑位置与平衡探测器的电压信号；步骤5：将电压信号转换为偏振光吸收率之差，根据测量装置的具体参数(如棱镜、石英片折射率等)，利用菲涅耳公式计算出不同层数石墨烯对应的吸收率之差；步骤6：最后将实验测得的吸收率之差与理论值进行对比从而得到石墨烯的层数。