[发明专利]用于发射成像设备的检测器和发射成像设备有效
| 申请号： | 201310503010.2 | 申请日： | 2013-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN103543463A | 公开（公告）日： | 2014-01-29 |
| 发明（设计）人： | 石涵;许剑锋 | 申请（专利权）人： | 许剑锋 |
| 主分类号： | G01T1/202 | 分类号： | G01T1/202;A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人： | 徐丁峰;付伟佳 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市洪*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于发射成像设备的检测器和发射成像设备。所述检测器包括：晶体层，所述晶体层包括多个闪烁晶体，所述多个闪烁晶体排列成正五边形或正六边形；以及光传感器层，所述光传感器层覆盖所述晶体层并与所述晶体层间隔开地设置，所述光传感器层包括多个光传感器，所述多个光传感器排列成与所述晶体层相同的形状。安装有本发明提供的检测器的发射成像设备能够具有较高的灵敏度和检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 发射 成像 设备 检测器 | ||
【主权项】：
一种用于发射成像设备的检测器，其特征在于，所述检测器包括：晶体层，所述晶体层包括多个闪烁晶体，所述多个闪烁晶体排列成正五边形或正六边形；以及光传感器层，所述光传感器层覆盖所述晶体层并与所述晶体层间隔开地设置，所述光传感器层包括多个光传感器，所述多个光传感器排列成与所述晶体层相同的形状。
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