[发明专利]测试磁性团簇微观促发作用的方法

摘要

测试磁性团簇微观促发作用的方法，本发明涉及测试磁性团簇促发作用的方法。本发明要解决现有测试磁性团簇微观促发作用的方法存在操作复杂，测量仪器数量极少且价格昂贵的问题。方法：一、材料准备；二、研磨和打磨；三、控制材料的距离；四、固定；五、物理性质测量系统测试，即可测试磁性团簇微观促发作用。本发明测试磁性团簇微观促发作用的方法用简单宏观手段即能测试磁性团簇微观促发作用，可以直观测试，与微观测试方法相比具有简单易行的优势。本发明用于测试磁性团簇微观促发作用的方法。

主权项

测试磁性团簇微观促发作用的方法，其特征在于测试磁性团簇微观促发作用的方法是按照以下步骤进行的：一、材料准备：准备极低温下磁场促发的台阶状变磁相变临界场的材料A及极低温下磁场促发的台阶状变磁相变临界场的材料B；所述的材料A与材料B的临界场不同；所述的材料A临界场为0.5T～5T；所述的材料B临界场为0.5T～5T；二、研磨：将材料A放置在玛瑙研钵中进行研磨，得到研磨后的材料A；将材料B放置在玛瑙研钵中进行研磨，得到研磨后的材料B；所述研磨后的材料A的粒径为50nm～0.01mm；所述研磨后的材料B的粒径为50nm～0.01mm；三、控制材料距离：将研磨后的材料A与研磨后的材料B混合均匀并压片，得到控制距离后的材料C；所述研磨后的材料A与研磨后的材料B的控制距离为0mm；四、固定：使用聚四氟乙烯带将控制距离后的材料C包裹2层～4层后固定到样品管中，得到固定后的材料D；五、物理性质测量系统测试：在测试温度为2K～5K下，将研磨后的材料A、研磨后的材料B及固定后的材料D放置于物理性质测量系统中分别测试磁化曲线，即测试出磁性团簇微观促发作用。