[发明专利]一种圆迹合成孔径雷达三维层析成像方法有效

专利信息
申请号: 201310431961.3 申请日: 2013-09-22
公开(公告)号: CN103454638A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 林赟;谭维贤;王彦平;洪文;吴一戎 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 梁爱荣
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开一种圆迹合成孔径雷达三维层析成像方法,步骤S1:将合成孔径雷达回波信号变换到距离压缩后的距离-角度空间域,获得斜平面信号;重复步骤S2-S7:通过距离向重采样将斜平面信号转换为第一地平面信号并作二维傅里叶变换,变换到距离-角度波数域,获得并将第二地平面信号与波数域距离徙动校正函数相乘,获得并对第三地平面信号作方位角维的逆傅里叶变换,获得第四地平面信号;通过二维插值,将第四地平面信号从极坐标域变换到直角坐标域,获得第五地平面信号;对第五地平面信号作二维傅里叶逆变换,获得第六地平面信号,第六地平面信号即为成像平面高度的图像;步骤S8:如果成像平面高度向点数小于成像平面高度索引结束操作。
搜索关键词: 一种 合成孔径雷达 三维 层析 成像 方法
【主权项】:
一种圆迹SAR三维层析成像方法,其特征在于,包括步骤如下:步骤S1:将合成孔径雷达回波信号变换到距离压缩后的距离‑角度空间域,获得斜平面信号s1(r,θ),其中,r为斜距,θ为方位角;步骤S2:通过距离向重采样将斜平面信号s1(r,θ)转换为第一地平面信号s2(rg,θ,zn),其中,rg为地距,zn为成像平面高度,下标n=1,2,...,N为成像平面高度索引,N为成像平面高度向点数,zn+1=zn+Δz,Δz为成像平面高度间隔,n从n=1开始;步骤S3:对第一地平面信号s2(rg,θ,zn)作二维傅里叶变换,变换到距离‑角度波数域,获得第二地平面信号s3(kg,kθ,zn),其中,kg为地距波数,kθ为角度波数;步骤S4:将第二地平面信号s3(kg,kθ,zn)与波数域距离徙动校正函数相乘,获得第三地平面信号s4(kg,kθ,zn);步骤S5:对第三地平面信号s4(kg,kθ,zn)作方位角维的逆傅里叶变换,获得第四地平面信号s5(kg,θ,zn);步骤S6:通过二维插值,将第四地平面信号s5(kg,θ,zn)从极坐标域变换到直角坐标域,获得第五地平面信号s6(kx,ky,zn),oxyz为以观测区域中心为原点建立的直角坐标系,oxy平面为地平面,z垂直于oxy平面为高度方向,kx为x方向的波数,ky为y方向的波数;步骤S7:对第五地平面信号s6(kx,ky,zn)作二维傅里叶逆变换,获得第六地平面信号s7(x,y,zn),第六地平面信号s7(x,y,zn)即为成像平面高度为zn的图像;步骤S8:n=n+1,若n<N,返回步骤S2,否则,结束操作流程。
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