[发明专利]一种主板高加速寿命测试方法无效
| 申请号： | 201310421013.1 | 申请日： | 2013-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN103471795A | 公开（公告）日： | 2013-12-25 |
| 发明（设计）人： | 李健 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M7/02 | 分类号： | G01M7/02;G01M7/08;G01N25/72 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 250014 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供一种主板高加速寿命测试方法，其具体测试过程为：1）首先进行温度应力测试，该温度应力测试包括：低温应力测试和高温应力测试；2）然后进行振动应力测试；3）最后进行联合应力测试，即将步骤1）与步骤2）联合起来同时进行应力测试。该一种主板高加速寿命测试方法和现有技术相比，节省设计成本，在产品研发阶段快速发现设计缺陷；同时可监控制造工艺的瑕疵，在研发阶段提前避免由于制程造成的产品品质问题，实用性强，易于推广。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 主板 加速 寿命 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种主板高加速寿命测试方法，其特征在于，其具体测试过程为：1）首先进行温度应力测试，该温度应力测试包括：低温应力测试和高温应力测试；2）然后进行振动应力测试；3）最后进行联合应力测试，即将步骤1）与步骤2）联合起来同时进行应力测试。
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