[发明专利]基于最优分数域Gabor谱特征的SAR目标检测方法有效
申请号: | 201310403403.6 | 申请日: | 2013-09-06 |
公开(公告)号: | CN103456015A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
发明(设计)人: | 彭真明;杨俊涛;黄振星;魏瑞鹏;何艳敏;张萍 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T5/00 |
代理公司: | 成都华典专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人: | 徐丰;杨保刚 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
本发明公开了一种基于最优分数域Gabor谱特征的SAR目标检测方法,属于图像处理技术领域,其包括如下步骤:读入 |
||
搜索关键词: | 基于 最优 分数 gabor 特征 sar 目标 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种基于最优分数域Gabor谱特征的SAR目标检测方法,包括如下步骤:步骤一:读入m×n SAR图像信号;步骤二:将所述SAR图像信号按行、列方向展开为1×MN和MN×1的信号;步骤三:对两个方向的信号设计最优窗函数,并分别对它们做GT;步骤四:对两个方向得到的空间‑频率谱做FrFT,并搜索最优变换阶次,改善空间‑频率分布;步骤五:对经过步骤三和步骤四优化后的空间‑频率谱进行能量衰减梯度特征提取,分别得到两个方向的特征表示;步骤六:将两个方向的特征表示对应空间位置做乘积,从而得到原始SAR图像的特征空间,完成检测。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310403403.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种膜吸收法制备超净高纯氨水的方法
- 下一篇:一种钢管缩口模具