[发明专利]一种基于光子晶体缺陷模式实现受激拉曼探测方法无效
| 申请号： | 201310384857.3 | 申请日： | 2013-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN103487424A | 公开（公告）日： | 2014-01-01 |
| 发明（设计）人： | 吴一辉;余慕欣 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/65 | 分类号： | G01N21/65 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 张伟 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 一种基于光子晶体缺陷模式实现受激拉曼探测方法属于微纳技术领域，步骤如下：设计一种具有高Q值，高灵敏度和宽波长选择区间的带缺陷结构的平板光子晶体。在缺陷结构上搭建检测系统，通过改变被测环境溶液折射率调节光子晶体缺陷结构纳米谐振腔共振频率，在发生受激拉曼散射的频率上测量拉曼位移以及光强变化；利用拉曼光谱数据库进行组分分析，通过拉曼位移判断样本组成成分；通过光强变化量获得样本浓度，实现本发明的检测。平板光子晶体以及谐振腔作为诱导光源器件具有体积小、成本低、易集成和实用化的优点。具有人工可控性保证了探测的重复性、稳定性和可靠性。能够同时实现对被测样本识别和浓度检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光子 晶体缺陷 模式 实现 受激拉曼 探测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于光子晶体缺陷模式实现受激拉曼探测方法，其特性在于，该方法的步骤如下：步骤一：设计并制备一种具有高Q值105～106，高灵敏度RIU>700和宽波长选择区间Δλ>50nm的带缺陷结构的平板光子晶体；步骤二：在缺陷结构内搭建检测系统，通过改变被测环境溶液折射率调节光子晶体缺陷结构纳米谐振腔共振频率，在发生受激拉曼散射的频率上测量拉曼位移以及光强变化；步骤三：利用拉曼光谱数据库进行组分分析，通过拉曼位移判断样本组成成分；通过光强变化量获得样本浓度，实现利用光子晶体缺陷模式实现对被测样本的受激拉曼检测。
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