[发明专利]用于确定过程参数的测量装置在审
| 申请号： | 201310374228.2 | 申请日： | 2013-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN103512601A | 公开（公告）日： | 2014-01-15 |
| 发明（设计）人： | C·巴贝尔 | 申请（专利权）人： | 克罗内分析学有限责任公司 |
| 主分类号： | G01D11/00 | 分类号： | G01D11/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 杨国治 |
| 地址： | 德国杜*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定过程参数的测量装置(1)，其带有传感元件(2)和套筒(10)，其中，套筒(10)的内壁具有两个凹部(11、12)并且套筒(10)在两个凹部(11、12)的区域中包围一空间。本发明目的在于提出一种测量装置，其尤其对于内腔的浇注来优化。该目的在所谈及的测量装置中由此来实现，即这两个凹部(11、12)围出不同的横截面面积。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 过程 参数 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种用于确定至少一个过程参数的测量装置(1)，其带有用于测量所述过程参数的至少一个传感元件(2)和带有至少部分地包围所述传感元件(2)的至少一个套筒(10)，其中，所述套筒(10)的内壁具有至少两个凹部(11、12)，且其中，所述套筒(10)至少在至少两个所述凹部(11、12)的区域中包围至少一个空间，其特征在于，至少两个所述凹部(11、12)围出不同的横截面面积。
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