[发明专利]一种内存检验测试系统在审
申请号: | 201310349195.6 | 申请日: | 2013-08-12 |
公开(公告)号: | CN103412807A | 公开(公告)日: | 2013-11-27 |
发明(设计)人: | 刘胜;范志超 | 申请(专利权)人: | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 250014 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明提供一种内存检验测试系统,通过高覆盖率测试和边缘测试对内存进行性能和可靠性检验对比,系统包括:系统主板模块(1)、内存关键电压及时序调节模块(2)、软体模块(3)、覆盖率测试模块(4)、输入/输出模块(5),通过系统下的操作界面通过软件模块对测试参数对测试进行设置,内存关键电压计时序调节模块根据客户的设置进行调节,使内存在系统主板模块上,正常工作在客户指定的环境中,然后借助于测试的程序进行覆盖率测试或边缘测试,最终通过软件翻译成直观的便于客户查看的图表。 | ||
搜索关键词: | 一种 内存 检验 测试 系统 | ||
【主权项】:
一种内存检验测试系统, 其特征在于在系统操作界面下,通过软件模块对测试参数进行设置,内存关键电压计时序调节模块根据客户的设置进行调节,使内存在系统主板模块上正常工作在客户指定的环境中,然后借助于测试的程序进行覆盖率测试或边缘测试,最终通过软件翻译成直观的便于客户查看的图表,系统包括:系统主板模块(1)、内存关键电压及时序调节模块(2)、软体模块(3)、覆盖率测试模块(4)、输入/输出模块(5),其中: 系统主板模块(1)是内存测试的基础部分,各种规格的测试内存和测试主板需要相匹配,需要保证系统平台能够正常运行;内存关键电压及时序调节模块(2),内存检验系统的边缘测试部分主要是通过在不同的Vdd/Vref及读写时序下检验内存的工作状态,通过此模块对内存的关键点呀和时序进行调节;软体模块(3),通过系统下的输入软件设置调节输入的电压和读写时序,并将最终的测试结果转化为直观的图表;覆盖率测试模块(4),对于所有的内存地址,对bank、行、column 地址、DQ number进行检查,查看坏掉的cell;输入/输出模块(5),输入模块的设置,包括键盘、鼠标,输出模块,包括显示器,将结果直观的显示出来。
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