[发明专利]一种硅橡胶复合绝缘子老化程度检测方法有效

专利信息
申请号: 201310341441.3 申请日: 2013-08-07
公开(公告)号: CN103398972A 公开(公告)日: 2013-11-20
发明(设计)人: 梁英;刘云鹏;石倩;花广如;李聪 申请(专利权)人: 华北电力大学(保定)
主分类号: G01N21/35 分类号: G01N21/35
代理公司: 石家庄冀科专利商标事务所有限公司 13108 代理人: 李羡民
地址: 071003 河*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 一种硅橡胶复合绝缘子老化程度检测方法,它通过以下步骤进行检测:a.采集试样、b.清洗试样、c.检测试样和d.对比试样,而后用光谱特征峰的峰面积变化量反映试样的老化程度。本发明方法简单,操作方便,测试使用的专用设备简单、易操作,且制造容易。
搜索关键词: 一种 硅橡胶 复合 绝缘子 老化 程度 检测 方法
【主权项】:
一种硅橡胶复合绝缘子老化程度检测方法,其特征在于:它采用以下步骤进行检测:a.采集试样:在硅橡胶复合绝缘子的伞裙上取下圆形坯件,再将坯件切成一定厚度的试样;b.清洗试样:先用无水乙醇清洗试样表面污垢,再用去离子水冲洗试样,使试样表面清洁;c.检测试样:利用傅里叶变换红外光谱仪对试样进行老化测试,通过红外光源发出的红外辐射经干涉仪后,调制得一束干涉光;所述干涉光通过试样后成为带有试样信息的干涉光而被傅里叶变换红外光谱仪检测到,傅里叶变换红外光谱仪将干涉光信号变为电信号,送入计算机,得到带有试样信息的时域干涉图;经过傅立叶变换将干涉图转换成以透光率或吸光度为纵坐标,以波数为横坐标的红外光谱图;d.对比试样:对测试试样取得的红外光谱进行解谱,对Si‑O‑Si键与Si‑CH3键的吸收峰面积进行计算,比较产品试样与现场试样的峰面积,用光谱特征峰的峰面积变化量反映试样的老化程度。
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