[发明专利]一种测试波导耦合器分光比的方法

摘要

本发明提供了一种测试波导耦合器分光比的方法，将待测M×N型波导耦合器置于调整架上，并调节调整架，使得波导耦合器的输入端和单模光纤对准，输出端位于光斑测试仪接收面的中心；为波导耦合器通光，光斑测试仪扫描波导耦合器的输出端面的光场分布；将扫描得到的光场分布曲线拟合为N个相同形式的函数的和，对这N个函数分别求体积分，其体积分之比为待测波导耦合器的N个输出端的分光比。本发明方法不需要将耦合器输出端进行光纤耦合，测试所用整个装置结构简单，测试方便；且能同时得到波导耦合器输出端各个端口的光强，不存在单独耦合其中一个输出端所带来的耦合误差，所得到的分光比结果更准确。

主权项

一种测试波导耦合器分光比的方法，用于测试输出端处于同侧的M×N型波导耦合器，M为输入端个数，N为输出端个数，其特征在于，该方法的实现步骤为：首先，搭建测试装置；测试装置包括：光源、光纤夹持器、光斑测试仪、调整架、体式显微镜及待测波导耦合器；光纤夹持器和波导耦合器分别置于两个调整架上，单模光纤通过光纤夹持器固定在调整架上；单模光纤的一端连接可见光光源，另一端靠近波导耦合器的输入端面；调整波导耦合器的输出端位于光斑测试仪接收面的中心；体式显微镜用于观察单模光纤与波导耦合器的对准情况；打开可见光光源，在体式显微镜的辅助下调节调整架，使单模光纤将光耦合进入波导中；然后，更换所需波长的光源接入单模光纤，观察光斑测试仪扫描得到的波导耦合器输出端的光场分布，精调调整架使光斑测试仪接收到的光强最大；最后，将光斑测试仪扫描得到的光场分布曲线拟合为N个相同形式函数的和，对得到的N个函数分别求体积分，则所述N个函数的体积分之比就是待测波导耦合器的N个输出端的分光比。