[发明专利]一种摆镜平台寿命试验系统有效

专利信息
申请号: 201310287525.3 申请日: 2013-07-10
公开(公告)号: CN103454076A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 王景宇;姜爱民;戴妍峰 申请(专利权)人: 中国科学院国家天文台
主分类号: G01M13/00 分类号: G01M13/00
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 陈鹏
地址: 100012 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种摆镜平台寿命试验系统,包括信号发生器、摆镜驱动放大器、电容式位移测量仪和控制计算机,信号发生器在控制计算机的控制下产生并输出与摆镜平台实际工作环境一致的周期性的摆镜驱动信号并送至摆镜驱动放大器,摆镜驱动放大器对传来的摆镜驱动信号进行放大后输入摆镜平台,驱动摆镜平台摆动;电容式位移测量仪周期性的测量摆镜平台的位移并送至控制计算机,控制计算机根据信号发生器产生的摆镜驱动信号和电容式位移测量仪获取的位移信号,判断摆镜平台是否工作正常,并根据摆镜平台是否工作正常确定摆镜平台的寿命。本发明系统无需在摆镜平台上附加其它装置,可非接触测量摆镜平台的位移,从而方便的获得摆镜平台的寿命估计。
搜索关键词: 一种 平台 寿命 试验 系统
【主权项】:
一种摆镜平台寿命试验系统,其特征在于包括:信号发生器、摆镜驱动放大器、电容式位移测量仪和控制计算机,信号发生器在控制计算机的控制下产生并输出与摆镜平台实际工作环境一致的周期性的摆镜驱动信号并送至摆镜驱动放大器,摆镜驱动放大器对传来的摆镜驱动信号进行放大后输入摆镜平台,驱动摆镜平台摆动;电容式位移测量仪周期性的测量摆镜平台的位移并送至控制计算机,控制计算机根据信号发生器产生的摆镜驱动信号和电容式位移测量仪获取的位移信号,判断摆镜平台是否工作正常,并根据摆镜平台是否工作正常确定摆镜平台的寿命;控制计算机每次采集时间长度为T的位移数据,T为摆镜驱动信号的周期,每采集一个完整周期为T的位移数据后,控制计算机即用最新采集的周期为T的位移数据和第一次采集的周期为T的位移数据进行互相关函数计算,互相关函数计算的点数为N,N=T/ΔT,ΔT为电容式位移测量仪的采样间隔;控制计算机将互相关函数最大值的点所对应的位移差值作为偏移量,并用此偏移量对当前采集的周期为T的位移数据进行逐点循环移位,控制计算机将移位完成后的最新采集的周期为T的位移数据与第一次采集的周期为T的位移数据进行点对点的减法运算,然后求取N个减法结果的平均值,当所述平均值小于等于电容式位移测量仪的测量误差时,控制计算机判定摆镜平台工作正常,当所述平均值大于电容式位移测量仪的测量误差时,控制计算机判定摆镜平台工作异常,此时,控制计算机将已经完成的对摆镜平台工作是否正常的判定次数乘以控制计算机的数据采样周期后作为摆镜平台的寿命输出。
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