[发明专利]一种连续光谱散射式颗粒测量方法

摘要

一种连续光谱散射式颗粒测量方法。解决在光散射法颗粒粒度及浓度测量中，采用单一波长或几个波长的光源，在大散射角度接收的信号微弱、采样点少的问题。本发明将连续波长的光照射在样品颗粒上，产生散射信号。将一定散射角范围内的散射光会聚到一点，导入光谱仪进行分析，得到不同波长的散射信号分布。这些散射信号分布与颗粒的粒径有关，通过数据算法得到颗粒的粒度及浓度分布。本发明将大范围散射角度的光信号会聚到一点接收，提高信号强度；采用连续光谱光源和光谱仪分析信号，增加了信号采样点数量，提高了测量分辨率和信噪比。

主权项

一种连续光谱散射式颗粒测量方法，其特征在于该方法的具体步骤是：由光源(1)发出连续波长的光经准直透镜(2)后照射在待测颗粒样品(3)中，经待测颗粒散射后由聚焦镜会聚于一点；将光谱仪的接收端口或光纤端口置于聚焦镜的会聚点位置，待测颗粒的散射光信号导入光谱仪进行分析，得到不同波长散射光的强度分布，通过数据反演得到待测颗粒粒度和浓度。