[发明专利]一种磁存储介质数据销毁效果检测方法有效
申请号: | 201310281041.8 | 申请日: | 2013-07-05 |
公开(公告)号: | CN103400586A | 公开(公告)日: | 2013-11-20 |
发明(设计)人: | 温柏龙;张剑;刘晓毅;易涛;齐伟钢;黄旭 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第三十研究所 |
主分类号: | G11B5/024 | 分类号: | G11B5/024;G01R33/12 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 徐宏 |
地址: | 610000 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: |
本发明涉及磁存储介质技术领域,本发明公开了一种磁存储介质数据销毁效果检测方法,其具体包括以下步骤:取记录了数据的磁存储介质作为被测样件,先得到被测样件的磁化强度 |
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搜索关键词: | 一种 存储 介质 数据 销毁 效果 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种磁存储介质数据销毁效果检测方法,其具体包括以下步骤:取记录了数据的磁存储介质作为被测样件,先得到被测样件的磁化强度
,再将被测样件进行消磁,得到被测样件消磁后的磁化强度
,然后根据消磁前后的磁化强度计算出消磁系数γ,最后根据消磁系数γ判断磁存储介质上数据销毁的程度。
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