[发明专利]一种磁存储介质数据销毁效果检测方法有效

专利信息
申请号: 201310281041.8 申请日: 2013-07-05
公开(公告)号: CN103400586A 公开(公告)日: 2013-11-20
发明(设计)人: 温柏龙;张剑;刘晓毅;易涛;齐伟钢;黄旭 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三十研究所
主分类号: G11B5/024 分类号: G11B5/024;G01R33/12
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 徐宏
地址: 610000 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及磁存储介质技术领域,本发明公开了一种磁存储介质数据销毁效果检测方法,其具体包括以下步骤:取记录了数据的磁存储介质作为被测样件,先得到被测样件的磁化强度,再将被测样件进行消磁,得到被测样件消磁后的磁化强度,然后根据消磁前后的磁化强度计算出消磁系数γ,最后根据消磁系数γ判断磁存储介质上数据销毁的程度。将读取数据时磁头读取的峰值电压转化为可以测量到的磁化强度,在消磁前后,分别测量磁存储介质的磁化强度,并设定消磁前后磁化强度比值的磁化系数公式,从而根据公式定量地计算出磁存储介质上数据销毁的效果。
搜索关键词: 一种 存储 介质 数据 销毁 效果 检测 方法
【主权项】:
1.一种磁存储介质数据销毁效果检测方法,其具体包括以下步骤:取记录了数据的磁存储介质作为被测样件,先得到被测样件的磁化强度,再将被测样件进行消磁,得到被测样件消磁后的磁化强度,然后根据消磁前后的磁化强度计算出消磁系数γ,最后根据消磁系数γ判断磁存储介质上数据销毁的程度。
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