[发明专利]一种容性高压设备绝缘老化诊断试验系统及其工作方法有效

专利信息
申请号: 201310262638.8 申请日: 2013-06-27
公开(公告)号: CN103323718A 公开(公告)日: 2013-09-25
发明(设计)人: 张方荣;张建;梁建华;杨堂华;白彪;史俊;李文亮 申请(专利权)人: 成都高斯电子技术有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/12
代理公司: 成都赛恩斯知识产权代理事务所(普通合伙) 51212 代理人: 王璐瑶
地址: 610000 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种容性高压设备绝缘老化诊断试验系统及其工作方法。该系统采用双频率时变信号进行叠加冲击试验,通过两路相互独立的DDS信号发生器及其带白噪声控制的功率放大器,以及一个幅值叠加单元,再加上与幅值叠加单元输出串联或并联的可控感性负载,形成复合混叠波形输出回路,并结合一套信息处理分析方法,对被试高压设备的绝缘老化进行试验诊断。与现有技术相比,本发明能够通过向被试高压设备施加低于额定电压的试验信号完成绝缘老化诊断试验,不会对高压设备造成绝缘损伤,试验可随时进行,便于现场测试,试验效率较高;与波形单一的现有诊断试验信号相比,叠加冲击试验信号能够获得丰富的测量参数,有利于发现高压设备潜在故障。
搜索关键词: 一种 高压 设备 绝缘 老化 诊断 试验 系统 及其 工作 方法
【主权项】:
一种容性高压设备绝缘老化诊断试验系统,其特征在于:所述诊断试验系统包括:MCU中央控制器,负责整个诊断试验系统的控制,并将发送出的控制数据和接收到的采集数据输入至数据处理分析器进行计算和分析;DDS信号发生器1,产生频率、幅值、波形可调控的冲击试验信号,受MCU中央控制器控制;DDS信号发生器2,产生频率、幅值、波形可调控的基准试验信号,受MCU中央控制器控制;相位控制器,受MCU中央控制器控制,分别调节冲击试验信号和基准试验信号的输出相位;功率放大器1,对DDS信号发生器1产生的冲击试验信号进行功率和电压放大;功率放大器2,对DDS信号发生器2产生的基准试验信号进行功率和电压放大;白噪声发生器,受MCU中央控制器控制,分别对功率放大器1和功率放大器2中的信号实现局部放大与缩小;幅值叠加单元,对来自功率放大器1和功率放大器2的两路信号进行幅值叠加,产生进入被试高压设备的复合叠加输出信号;可调电感器,电感量受MCU中央控制器控制,与幅值叠加单元的输出串联或并联,实现负载总阻抗的调节;双通道实时并行采集器,负责采集被试高压设备连接端的温度和环境湿度,并将采集数据送入MCU中央控制器;射频功率信号检波与采集器,负责采集被试高压设备连接端的电流时变信号和电压时变信号,并将采集数据送入MCU中央控制器;数据处理分析器,接收来自MCU中央控制器的控制数据和采集数据,实现在叠加冲击波形下的阻抗、或相位、或介质损失频率特性曲线,或/和基于STFT短时傅立叶变换的阻抗或相位、频率及时间的三维特性曲线,或/和LRC储能频响曲线,或/和基于TDR时域脉冲反射的电缆故障定位,得到被试高压设备绝缘老化诊断结果。
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