[发明专利]紫外光辐射照度自动测量装置在审

专利信息
申请号: 201310252989.0 申请日: 2013-06-24
公开(公告)号: CN103438994A 公开(公告)日: 2013-12-11
发明(设计)人: 翁铭廷;谢军 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静;黄灿
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种紫外光辐射照度自动测量装置,包括紫外光探测模块和控制模块,所述紫外光探测模块用于测量紫外光的辐射照度;所述紫外光辐射照度自动测量装置还包括驱动模块,其中,所述控制模块,用于向所述驱动模块发出驱动信号,并预先设定紫外光辐射区域中的至少一任意点为测量点;所述驱动模块,用于根据该驱动信号驱动所述紫外光探测模块在紫外光辐射区域内运动,以使得所述紫外光探测模块在预先设定的测量点测量紫外光的辐射照度。本发明所述的紫外光辐射照度自动测量装置可以自动控制紫外光探测模块在紫外光辐射区域内的任意点测量紫外光的辐射照度,不对测量点数进行限制,而且测量点可以任意选取,并可覆盖整个紫外光辐射区域。
搜索关键词: 紫外 光辐射 照度 自动 测量 装置
【主权项】:
一种紫外光辐射照度自动测量装置,包括紫外光探测模块和控制模块,所述紫外光探测模块用于测量紫外光的辐射照度;其特征在于,所述紫外光辐射照度自动测量装置还包括驱动模块,其中,所述控制模块,用于向所述驱动模块发出驱动信号,并预先设定紫外光辐射区域中的至少一任意点为测量点;所述驱动模块,用于根据该驱动信号驱动所述紫外光探测模块在紫外光辐射区域内运动,以使得所述紫外光探测模块在预先设定的测量点测量紫外光的辐射照度。
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