[发明专利]一种硅质聚渣剂的X荧光光谱分析法

摘要

本发明提供一种硅质聚渣剂的X荧光光谱分析法，采用四硼酸锂试剂作熔剂，在高温下将试样熔融成玻璃样片，然后利用X荧光光谱仪绘制的国家标准样品曲线分析其待测元素强度，从而计算出待测元素的百分含量。与化学分析方法相比，本发明方法程序简化，手续简单，试剂种类少，可降低检测费用，净化空气质量，且标准曲线一次绘制完成后可多次使用；可缩短测定时间，每批试样可节省分析时间3小时，极大提高分析效率；以仪器代替手工分析，可减少分析误差，提高分析准确率，且干扰因素少，机体影响较小，稳定性好。

主权项

一种硅质聚渣剂的X荧光光谱分析法，其特征在于，具体分析方法和步骤为：样片制备： （1）、称取6.0000g四硼酸锂、0.1000g氟化锂试剂于洁净的铂金锅内，加入0.2000g试样，搅拌，加入5滴饱和硝酸钾溶液和5滴40%的碘化钾溶液；（2）、将盛装试样的铂金锅放入熔融炉内，在1145‑1155℃下熔融14‑16min；（3）、取下铂金锅，冷却至室温；标准曲线绘制：（1）、选取10个二氧化硅含量在60‑85wt%范围内且具有一定梯度的国家标准样品作为分析样；（2）、按照“样片制备”的三个步骤将10个国家标准样品熔融成玻璃样品；（3）、设定X荧光光谱仪分析参数：a、X光管电压40kV，电流70mA；b、元素分析时间19‑22s；c、PHA Low Level:15，PHA High Level:130； d、Spectrometer： Crystal  PET；（4）、将熔融完成的10个国家标准样品的样片，用设定完成的X荧光光谱仪依次测定待测元素的强度，并绘制出强度—浓度曲线，计算出回归系数，且保证回归系数不小于0.999；分析测定：将熔融完成并冷却的试样放于X荧光光谱仪分析位置，用X荧光光谱仪分析待测元素的强度，并通过待测元素的强度在标准曲线上计算出元素的百分含量。