[发明专利]天馈系统的无源互调性能测试方法和装置有效
申请号: | 201310231471.9 | 申请日: | 2013-06-09 |
公开(公告)号: | CN104244311B | 公开(公告)日: | 2017-09-15 |
发明(设计)人: | 张敏;程广辉 | 申请(专利权)人: | 中国移动通信集团公司 |
主分类号: | H04W24/06 | 分类号: | H04W24/06;H04W88/08 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司11018 | 代理人: | 谢安昆,宋志强 |
地址: | 100032 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了天馈系统的无源互调性能测试方法和装置,该方法适用于TDD制式的基站,在基站的RRU中增加一个PIM检测接收机,当进行测试时,将PIM检测接收机分别与RRU中的基带板卡和基站的天线相连;针对基站中的各路发射机依次发射出的测试信号,PIM检测接收机分别进行如下处理在预定测试频段内进行该路信号的扫描接收,并对接收到的信号进行预定处理后,发送给评估设备,以便评估设备根据接收到的信号评估出天馈系统的无源互调性能。本发明所述方案能够适用于TDD制式的基站,且能够节省人力物力。 | ||
搜索关键词: | 系统 无源 调性 测试 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种天馈系统的无源互调性能测试方法,其特征在于,该方法适用于时分双工TDD制式的基站,在所述基站的射频拉远单元RRU中增加一个无源互调PIM检测接收机,当进行测试时,断开所述RRU中的反馈校准通路与所述RRU中的基带板卡以及所述基站的天线之间的连接,并将所述PIM检测接收机分别与所述基带板卡和所述天线相连;针对所述基站中的各路发射机依次发射出的测试信号,所述PIM检测接收机分别进行如下处理:在预定测试频段内进行该路信号的扫描接收,并对接收到的信号进行预定处理后,发送给评估设备,以便所述评估设备根据接收到的信号评估出所述基站的天馈系统的无源互调性能。
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