[发明专利]一种哈特曼复合传感器内各探测器光轴基准实时探测方法有效

专利信息
申请号: 201310204563.8 申请日: 2013-05-28
公开(公告)号: CN103292911A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 鲜浩;沈锋;缪洪波;董道爱;邓启凌 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01J9/00 分类号: G01J9/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 李新华
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种哈特曼复合传感器内各探测器光轴基准实时探测方法,哈特曼复合传感器包含接收光路和发射光路两路探测器,在复合传感器内部加入一路准直细光束激光基准信标,通过分光模块后分别进入两路子传感器,两路子传感器校正光束均为带中心遮拦光束,利用微透镜阵列基片中心遮拦处的聚集透镜将准直细光束激光基准信标成像于各探测器。在工作时同时测量两路探测器各自的基准信标质心偏移相对基准位置的变化量,根据此变化量进行实时闭环控制.本发明有效消除了复合传感器内部各探测器工作过程中由于温漂或振动带来的光轴变化,适合长时间连续工作条件下激光发射,还可避免外部振动等原因带来的误差,且简单有效可靠。
搜索关键词: 一种 哈特曼 复合 传感器 探测器 光轴 基准 实时 探测 方法
【主权项】:
一种哈特曼复合传感器内各探测器光轴基准实时探测方法,其特征在于:所述哈特曼复合传感器包含两路子传感器,即接收光路子传感器和发射光路子传感器,在哈特曼复合传感器内部加入一路准直细光束激光基准信标,通过分光模块后所述信标分别进入两路子传感器,两路子传感器校正光束均为带中心遮拦光束,利用微透镜阵列基片中心遮拦处的聚集透镜将准直细光束激光基准信标成像于各子传感器中的探测器,在工作时同时测量两路探测器各自的基准信标质心偏移相对基准位置的变化量,根据此变化量进行实时闭环控制,控制方法为:首先在工作前两路子传感器分别对基准信标光斑质心位置标定,得到并保存基准信标在两路探测器的质心位置;然后在工作过程中实时测量两路探测器基准信标光斑质心位置,此时的质心位置由于探测器热漂移或振动等原因与起始位置发生变化,工作时的质心位置与工作前的标定位置相减即得到两路探测器的光轴基准相对变化,最后将光轴基准相对变化数据加入闭环控制实现发射光路与接收信标光路同轴。
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