[发明专利]一种复杂背景下较低温细金属丝非接触式测温方法

摘要

本发明公开了一种复杂背景下较低温细金属丝非接触式测温方法，步骤为：①利用非接触式测温装置测量得到当前环境下静止的退火金属丝的测量距离、背景温度、目标偏移量和发射率，并获得n组参考值Wmk和测量值Tmk，计算得到对应的误差；②利用非接触式测温装置测量得到当前环境下运动中的退火金属丝的测量温度T测量；③根据插值算法计算得到改变其中一个参数所引起的误差；④获取导致退火温度测量值产生的综合偏差ΔT0；⑤利用公式T真实＝T测量+ΔT0，计算得到逼近铜线表面温度真实值的T真实。本发明能修正非接触式测温领域中测量高速运动的细金属丝在低温段温度测量值偏差过大的不足，以保证非接触式测温仪对高速运动的细金属丝在低温段的测量精度。

主权项

一种金属丝测温方法，其特征在于，该方法包括下述步骤：第1步利用非接触式测温装置测量得到当前环境下静止的退火金属丝的四个参数，包括测量距离为l0，背景温度为u0、目标偏移量为p0和发射率为λ0，设k为测量序号，k＝1，2，3，...，n，n为测量次数，m分别表示为l、u、λ和p；每次调节其中一个参数，保持四个参数中的其它三个不变，分别采用接触式测温仪和非接触式测温仪获得n组参考值Wmk和测量值Tmk，且Wmk保持不变，即Wlk＝Wuk＝Wλk＝Wpk；所计算得到对应的误差ΔTmk＝Tmk‑Wmk，其中，m分别表示为l、u、λ和p；第2步利用非接触式测温装置测量得到当前环境下运动中的退火金属丝的测量温度T测量；第3步根据插值算法，计算获得得到改变其中一个参数所引起的误差ΔTm，m分别表示为l、u、p和λ：ΔTm＝ΔTm1+f[Tm1，Tm2](T测量‑Tm1)+f[Tm1，Tm2，Tm3](T测量‑Tm1)(T测量‑Tm2)+…+f[Tm1，Tm2，…，Tmn](T测量‑Tm1)(T测量‑Tm2)…(T测量‑Tm，n‑1)，其中， f [ T mi , T mj ] = ΔT mi - ΔT mj T mi - T mj , f [ T m 1 , T m 2 , · · · , T mk ] = f [ T m 1 , T m 2 , · · · T m , k - 1 ] - f [ T m 2 , T m 3 , · · · , T mk ] T m 1 - T mk 第4步获取测量距离、背景温度、目标偏移量和发射率4种影响因子导致退火温度测量值产生的综合偏差：ΔT0＝ωpΔTp+ωuΔTu+ωλΔTλ+ωlΔTl其中， ω p = | ΔT p | | ΔT p | + | ΔT u | + | ΔT λ | + | ΔT l | , ω u = | ΔT u | | ΔT p | + | ΔT u | + | ΔT λ | + | ΔT l | , ω λ = | ΔT λ | | ΔT p | + | ΔT u | + | ΔT λ | + | ΔT l | , ω l = | ΔT l | | ΔT p | + | ΔT u | + | ΔT λ | + | ΔT l | , 第5步利用公式T真实＝T测量+ΔT0，计算得到逼近铜线表面温度真实值的温度T真实。