[发明专利]多模块平行测试系统及测试方法有效
| 申请号： | 201310163077.6 | 申请日： | 2013-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN103267940A | 公开（公告）日： | 2013-08-28 |
| 发明（设计）人： | 罗斌;祁建华;张志勇;徐惠;牛勇;郝丹丹 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/073 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 周耀君 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种多模块平行测试系统及测试方法，其中，所述多模块平行测试系统包括：ATE驱动模块；探针卡，所述探针卡与所述ATE驱动模块信号连接，所述探针卡包括多组探针，每组探针包括一主探针及一附加探针。在本发明提供的多模块平行测试系统及测试方法中，通过在每组探针中设置一附加探针，能有效地将干扰信号聚焦到附加探针中，从而防止主探针中接收到干扰信号，即避免/减小了多模块平行测试中的信号干扰，提高了多模块平行测试的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 模块 平行 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种多模块平行测试系统，其特征在于，包括：ATE驱动模块；探针卡，所述探针卡与所述ATE驱动模块信号连接，所述探针卡包括多组探针，每组探针包括一主探针及一附加探针。
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