[发明专利]位移检测装置及其动态调整影像感测区域的方法有效
申请号: | 201310158672.0 | 申请日: | 2013-05-02 |
公开(公告)号: | CN104135604B | 公开(公告)日: | 2018-01-30 |
发明(设计)人: | 陈俊玮;古人豪;郭士维 | 申请(专利权)人: | 原相科技股份有限公司 |
主分类号: | H04N5/232 | 分类号: | H04N5/232;H04N5/235 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司72003 | 代理人: | 赵根喜,吕俊清 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种位移检测装置及其动态调整影像感测区域的方法。包括一光源、影像提取单元与处理单元。影像提取单元根据固定的取样周期提取表面至少一参考影像。处理单元用以计算光源的一曝光参考值与参考影像的一影像特征值并据此判断表面位于第一粗糙系数范围或第二粗糙系数范围。如果表面位于第一粗糙系数范围,则处理单元在参考影像上定义一第一搜寻半径或一第二搜寻半径用以增加或降低影像感测区域;如果表面位于第二粗糙系数范围,则处理单元在参考影像上定义一第三搜寻半径或一第四搜寻半径用以增加或降低影像感测区域。本发明可降低位移检测装置的功耗。 | ||
搜索关键词: | 位移 检测 装置 及其 动态 调整 影像 区域 方法 | ||
【主权项】:
一种位移检测装置,用于检测表面的平整度且动态调整影像感测区域,其特征在于,该位移检测装置包括:光源,发射光线;影像提取单元,用以固定的取样周期提取该表面的至少一个参考影像;以及处理单元,连接该光源与该影像提取单元,该处理单元用以计算该光源的曝光参考值与该参考影像的影像特征值并据此判断该表面位于第一粗糙系数范围或第二粗糙系数范围,其中该处理单元在该参考影像上选定小于该参考影像的搜寻框,其中位于该第一粗糙系数范围的该表面为平滑面,并且位于该第二粗糙系数范围的该表面为粗糙面,其中如果该表面位于该第一粗糙系数范围,则该处理单元在该参考影像上在该搜寻框的边界向外定义第一搜寻半径以增加该影像感测区域或定义第二搜寻半径以降低该影像感测区域,该第一搜寻半径大于该第二搜寻半径;如果该表面位于该第二粗糙系数范围,则该处理单元在该参考影像上在该搜寻框的边界向外定义第三搜寻半径以增加该影像感测区域或定义第四搜寻半径以降低该影像感测区域,该第三搜寻半径大于该第一及该第四搜寻半径。
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