[发明专利]光栅剪切三维成像系统及光栅剪切三维成像方法有效
申请号: | 201310111203.3 | 申请日: | 2013-04-01 |
公开(公告)号: | CN103365068A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 |
发明(设计)人: | 朱佩平;张凯;袁清习;黄万霞;洪友丽 | 申请(专利权)人: | 中国科学院高能物理研究所 |
主分类号: | G03B42/02 | 分类号: | G03B42/02;G01N23/04;G01N23/06 |
代理公司: | 北京市惠诚律师事务所 11353 | 代理人: | 雷志刚;潘士霖 |
地址: | 100049 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种光栅剪切三维成像系统及光栅剪切三维成像方法,所述的成像系统包括:光源装置,用于产生多缝光源;分束光栅,用于将所述光束分割成一维光束阵列;样品台,用于承载、固定和旋转样品;分析光栅,用于产生不同的光强背景,增强或抑制样品的折射信号或散射信号;探测器,用于探测光强的背景和空间位置的变化,采集所述样品在不同光强背景下的投影数据。上述的光栅剪切三维成像装置能够快速采集图像数据,并且密度分辨率高,密度不均匀性分辨率高,满足医学检测、安全检查、工业检测等方面的应用需求。 | ||
搜索关键词: | 光栅 剪切 三维 成像 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种光栅剪切三维成像系统,其特征在于,包括:光源装置,用于产生多缝光源,每条缝光源都产生照射分束光栅的X射线光束;分束光栅,用于将所述光束分束为一维光束阵列;样品台,用于承载样品;分析光栅,用于产生不同的光强背景,增强或抑制样品的折射信号或散射信号;探测器,用于探测光强的背景和空间位置的变化,在不同光强背景下采集预定旋转角度范围内不同旋转角度对应的样品的投影数据。
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