[发明专利]自对准三重图形的形成方法有效
| 申请号： | 201310106678.3 | 申请日： | 2013-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN104078330B | 公开（公告）日： | 2018-03-06 |
| 发明（设计）人： | 尚飞;何其旸 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/033 | 分类号： | H01L21/033;H01L21/02;H01L21/308 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人： | 骆苏华 |
| 地址： | 201203 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种自对准三重图形的形成方法，包括提供待刻蚀层，所述待刻蚀层的部分表面具有若干分立的第一牺牲层，相邻第一牺牲层之间暴露出待刻蚀层表面，所述第一牺牲层表面具有第二牺牲层；在所述待刻蚀层、第一牺牲层和第二牺牲层表面形成掩膜薄膜；去除所述第二牺牲层的侧壁和顶部表面的掩膜薄膜，在所述第一牺牲层两侧形成第一掩膜；在形成所述第一掩膜之后，沿所述第二牺牲层的侧壁表面去除部分所述第二牺牲层，使所述第二牺牲层的尺寸缩小，并暴露出部分第一牺牲层表面，所述尺寸缩小到第二牺牲层形成第二掩膜。所述形成方法简单，所形成的三重图形应用更广泛。 | ||
| 搜索关键词： | 对准 三重 图形 形成 方法 | ||
【主权项】：
一种自对准三重图形的形成方法，其特征在于，包括：提供待刻蚀层，所述待刻蚀层的部分表面具有若干分立的第一牺牲层，相邻第一牺牲层之间暴露出待刻蚀层表面，所述第一牺牲层表面具有第二牺牲层；在所述待刻蚀层、第一牺牲层和第二牺牲层表面形成掩膜薄膜；去除所述第二牺牲层的侧壁和顶部表面的掩膜薄膜，在所述第一牺牲层两侧形成第一掩膜；在形成所述第一掩膜之后，沿所述第二牺牲层的侧壁表面去除部分所述第二牺牲层，使所述第二牺牲层的尺寸缩小，并暴露出部分第一牺牲层表面，所述尺寸缩小的第二牺牲层形成第二掩膜，沿所述第二牺牲层的侧壁表面去除部分厚度的工艺为等离子体干法刻蚀工艺，所述等离子体干法刻蚀工艺在平行于待刻蚀层表面方向上的刻蚀速率比垂直于待刻蚀层表面方向上的刻蚀速率快，所述等离子体干法刻蚀工艺的参数为：气压为0毫托～50毫托，偏压为0伏～100伏，刻蚀气体总流量为100标准毫升/分钟～500标准毫升/分钟。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
