[发明专利]一种判断铁电液晶波片(FeLC)快慢轴方位的新方法无效
申请号: | 201310088270.8 | 申请日: | 2013-03-20 |
公开(公告)号: | CN104062094A | 公开(公告)日: | 2014-09-24 |
发明(设计)人: | 侯俊峰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院国家天文台 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100012 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明属于偏振光学检测技术领域,涉及一种判断铁电液晶波片(FeLC)快慢轴方位的新方法。本发明根据旋转波片法和相位调制法的基本原理,将待测FeLC置于椭偏场中,由偏振光学传输理论获得出射光强与FeLC快慢轴参考方位之间的函数关系,通过测量FeLC调制后的两个出射光强是否相等判断其快慢轴的参考方位。该测量方法不依赖于FelC的相位延迟和调制角以及椭偏场中其他波片的相位延迟,测量方法简单易行且精度高,可以广泛应用于任意相位延迟的铁电液晶波片的快慢轴判断。 | ||
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【主权项】:
一种判断铁电液晶波片(FeLC)快慢轴方位的新方法,其特征在于:一种判断铁电液晶波片(FeLC)快慢轴方位的新方法,测量结构主要包括光源1、干涉滤光片2、起偏器3、被测样品(FeLC)4、波片5、检偏器6、探测器7、示波器8和电压控制器9。该判断方法步骤如下: 1)起偏器3和检偏器6构成一个正交偏振干涉光路,此时由检偏器6输出端光强为零; 2)将波片5放入光路中,置于检偏器6之前,调整波片5使其快轴方位与起偏器的透射光轴夹角为45度,构成椭偏场; 3)将被测样品(FeLC)4置于起偏器3之后波片5之前,由电压控制器9控制输出电压,被测样品的快轴将以调制角Δ快速变换。设定变换的两个快轴方位的角平分线位置为被测样品的快轴参考方位θ,根据偏振光学传输理论得到两个出射光强I1和I2与系统各个偏振参数的关系如下: I1=1‑cos2(2θ+Δ)cosδ1‑sin2(2θ+Δ)cosδcosδ1+sinδsinδ1sin(2θ+Δ) (1) I2=1‑cos2(2θ‑Δ)cosδ1‑sin2(2θ‑Δ)cosδcosδ1+sinδsinδ1sin(2θ‑Δ) (2) I1‑I2=(cosδ‑1)cosδ1(cos2(2θ+Δ)‑cos2(2θ‑Δ))+sinδsinδ1(sin(2θ+Δ)‑sin(2θ‑Δ)) (3)其中,δ1和δ分别为波片5和被测样品(FeLC)4的相位延迟。由(3)式可知,当θ=±45°时,两个出射光强I1和I2相等。此时,被测样品(FeLC)4的快轴参考方位与起偏器透射光轴的夹角为45度; 4)旋转被测样品(FeLC)4,出射光强由探测器7接收并转化为电信号传送给示波器8,由示波器8观察输出的两个光强值的快速变化。当两光强相等时停止旋转,此时被测样品(FeLC)4的快轴参考方位与起偏器透射光轴的夹角为45度。
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