[发明专利]密封圈老化测试装置无效
| 申请号： | 201310081055.5 | 申请日： | 2013-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN104048907A | 公开（公告）日： | 2014-09-17 |
| 发明（设计）人： | 周明杰;汪辉 | 申请（专利权）人： | 深圳市海洋王照明工程有限公司;海洋王照明科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种密封圈老化测试装置，其包括收容座、温度探头及温度计。收容座包括本体和盖体，密封圈放置于本体的内表面，盖体安装于本体上并遮盖密封圈。温度探头安装在盖体的内表面，温度计用于量测收容座内部的温度。其中，测试时，将收容座放入高温箱，温度计放在高温箱外，温度探头将探测到的收容座内部的温度传给温度计，使收容座内部的温度达到预定温度并保持一定的时间，以对密封圈进行老化测试。本发明提供的密封圈老化测试装置，通过将密封圈放入收容座内部，且通过温度探头探测收容座内部的温度并传给温度计，从而可以保证收容座内部的温度达到预定温度，进而保证了密封圈老化测试的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 密封圈 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种密封圈老化测试装置，其特征在于，所述密封圈老化测试装置包括收容座、温度探头及温度计，所述收容座包括本体和盖体，所述密封圈放置于所述本体的内表面，所述盖体安装于所述本体上并遮盖所述密封圈，所述温度探头安装在所述盖体的内表面，所述温度计用于量测所述收容座内部的温度，其中，测试时，将所述收容座放入高温箱，所述温度计放在所述高温箱外，所述温度探头将探测到的所述收容座内部的温度传给所述温度计，使所述收容座内部的温度达到预定温度并保持一定的时间，以对所述密封圈进行老化测试。
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