[发明专利]一种高三阶交调点可变衰减器无效

专利信息
申请号: 201310080990.X 申请日: 2013-03-14
公开(公告)号: CN103178801A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 戴永胜;朱勤辉;施淑媛;罗鸣;杨静霞;张林;冯辰辰;顾家;陈湘治;方思慧;陈龙;朱丹;邓良;李雁 申请(专利权)人: 江苏奕扬电子科技股份有限公司
主分类号: H03H7/24 分类号: H03H7/24
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 朱显国
地址: 210042 江苏省南*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种高三阶交调点可变衰减器,在微波输入端口RFIN和微波输出端口RFOUT间级联N个场效应晶体管(FET),在输入端口RFIN和与其连接的第一个场效应晶体管(FET)之间的点和地之间间级联N个场效应晶体管(FET),在输出端口RFOUT和与其连接的第一个场效应晶体管(FET)之间的点和地之间级联N个场效应晶体管(FET)。本发明是一种用于雷达、通信的电子部件,是一种高三阶交调点的线性电压控制衰减器集成电路。具有小型,轻量级,高出产量,低成本等特点,并且简单易用,低功率耗散。
搜索关键词: 一种 高三阶交调点 可变 衰减器
【主权项】:
一种高三阶交调点可变衰减器,其特征在于:在微波输入端口RFIN和微波输出端口RFOUT间级联N个场效应晶体管(FET),N为大于等于2的整数;微波输入端口RFIN与场效应晶体管(FET)的源极相连,场效应晶体管(FET)的漏极与下一个场效应晶体管(FET)的源极相连,依次级联N个,第N个场效应晶体管(FET)的漏极与微波输出端口RFOUT相连;在输入端口RFIN和与其连接的第一个场效应晶体管(FET)之间的点和地之间间级联N个场效应晶体管(FET),微波输入端口RFIN与场效应晶体管(FET)的源极相连,场效应晶体管(FET)的漏极与下一个场效应晶体管(FET)的源极相连,依次级联N个,第N个场效应晶体管(FET)的漏极与地相连;在输出端口RFOUT和与其连接的第一个场效应晶体管(FET)之间的点和地之间级联N个场效应晶体管(FET),微波输出端口RFOUT与场效应晶体管(FET)的源极相连,场效应晶体管(FET)的漏极与下一个场效应晶体管(FET)的源极相连,依次级联N个,第N个场效应晶体管(FET)的漏极与地相连。
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