[发明专利]多核处理器及其测试方法和装置有效
| 申请号： | 201310074206.4 | 申请日： | 2013-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN103149529A | 公开（公告）日： | 2013-06-12 |
| 发明（设计）人： | 王琳;齐子初;胡伟武 | 申请（专利权）人： | 龙芯中科技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 吴贵明;张永明 |
| 地址： | 100190 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多核处理器及其测试方法和装置。其中，多核处理器的测试装置包括：主控制模块和多个从控制模块，多个从控制模块依次串联，每个处理器核中均设置有一个从控制模块，每个从控制模块均与主控制模块相连接，其中，主控制模块用于生成使能信号和主测试信号，并向至少一个从控制模块发送使能信号，以及向初始输入端发送主测试信号；多个从控制模块分别生成对所在的处理器核进行测试的从测试信号；接收到使能信号的至少一个从控制模块利用所生成的从测试信号和主测试信号对所在的处理器核进行测试。通过本发明，解决了现有技术中多核处理器的测试方案存在控制逻辑比较复杂的问题，进而达到了简化多核处理器结构的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 多核 处理器 及其 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种多核处理器的测试装置，所述多核处理器包括多个处理器核，其特征在于，所述测试装置包括：主控制模块和多个从控制模块，所述多个从控制模块依次串联，每个处理器核中均设置有一个从控制模块，每个从控制模块均与所述主控制模块相连接，其中，所述主控制模块用于生成使能信号和主测试信号，并向至少一个从控制模块发送所述使能信号，以及向初始输入端发送所述主测试信号，其中，所述初始输入端为串联后的所述多个从控制模块的测试输入端；所述多个从控制模块分别生成对所在的处理器核进行测试的从测试信号；接收到所述使能信号的至少一个从控制模块利用所生成的从测试信号和所述主测试信号对所在的处理器核进行测试。
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