[发明专利]X射线多次散射模拟的重整化方法有效
| 申请号： | 201310069480.2 | 申请日： | 2013-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN104027121B | 公开（公告）日： | 2018-01-16 |
| 发明（设计）人： | 张笛儿 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201815 上海市嘉*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种X射线多次散射模拟的重整化方法，包括如下步骤a)产生[0，1]3n空间上长度为m的低差异序列，其中，n为散射次数并且为大于1的正整数，m为样本个数；b)通过将所述低差异序列进行同构映射变换生成与模体的几何形状匹配的散射点序列；c)由散射点序列对每个检测器网格点构成m条光子路径；d)对所述m条光子路径的每一条光子路径进行重整化处理；e)确定所述光子沿重整化处理后的一条光子路径经n次散射到达检测器网格点的概率密度；f)根据所述光子沿重整化处理后的各条光子路径经n次散射的概率密度获得每个检测器网格点上的散射强度。本发明提供的方法可以提高多次散射的模拟效率，消除在模体边界不连续导致的误差。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 多次 散射 模拟 重整 方法 | ||
【主权项】：
一种X射线多次散射模拟的重整化方法，其特征在于，包括如下步骤：a)产生[0,1]3n空间上长度为m的低差异序列，其中n为散射次数并且为大于1的正整数，m为样本个数；b)通过将所述低差异序列进行同构映射变换生成与模体的几何形状匹配的散射点序列；c)由散射点序列对每个检测器网格点构成m条光子路径；d)对所述m条光子路径的每一条光子路径进行重整化处理；e)确定所述光子沿重整化处理后的一条光子路径经n次散射到达检测器网格点的概率密度；f)根据所述光子沿重整化处理后的各条光子路径经n次散射的概率密度获得每个检测器网格点上的散射强度。
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