[发明专利]射线实时成像中缺陷检测方法无效

专利信息
申请号: 201310063451.5 申请日: 2013-02-28
公开(公告)号: CN103149222A 公开(公告)日: 2013-06-12
发明(设计)人: 沈宽 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00;G06T5/00
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人: 赵荣之
地址: 400044 *** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 发明公开了一种射线实时成像中缺陷检测方法,首先根据系统检测需求对要检工件的建立标准射线图像数据库;其次对被测工件的射线图像进行增强;然后从标准数据库中选择合适的图像与增强后的图像进行配准,从而获得从被测工件图像变换到标准图像的变换关系,并将增强后的图像映射到标准图像空间;接着对标准图像和变换后的增强图像进行差影操作;最后计算缺陷的大小、位置和等级。本发明避开了复杂的弱边缘提取问题,具有缺陷检测速度快、检测准确的特点,并可结合控制参数实时结算出缺陷所在工件的实际位置。该方法适合大批量产品的射线实时成像检测,可以快速检测出产品中是否包含缺陷以及缺陷的大小、位置等。
搜索关键词: 射线 实时 成像 缺陷 检测 方法
【主权项】:
射线实时成像中缺陷检测方法,其特征在于:包括以下步骤:S1:根据被检对象的类型、品种建立被检测对象的标准射线图像数据库;S2:获取被测对象的现场射线图像;S3:增强现场射线图像,获得增强后的增强射线图像;S4:从标准射线图像数据库中选择与现场射线图像同类型、同品种的标准射线图像;S5:对增强射线图像和标准射线图像进行配准,以获得从对增强后的射线图像变换到标准射线图像的空间变换系数;S6:将增强射线图像变换到标准射线图像空间,然后对二者进行差影操作,去除背景,对差影结果进行缺陷提取;S7:根据检测射线成像先验知识,对缺陷检测结果进行精化,得到缺陷目标,计算各个缺陷目标的检测参数,所述检测参数包括大小、位置和占空比。
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